Criado por Administrator em qua, 27/11/2013 - 15:16
Fernanda Mafia e Brunello Amorim
A programação do 7º Congresso Brasileiro de Metrologia, na manhã de terça-feira, 26, foi marcada por debates. Houve apresentação de dois pesquisadores: Antônio Possolo, do Instituto Nacional de Metrologia dos Estados Unidos (Nist), e Paulo Artaxo, da Universidade de São Paulo. Também foram promovidas sessões paralelas, com exposição de trabalhos aprovados pelo comitê científico.
O evento busca firmar-se como um ambiente para que pesquisadores e interessados possam conhecer as novidades e se informar sobre pesquisas na área. “Participar do Congresso foi uma oportunidade de saber das novidades na área e perceber como está o mercado”, afirma a técnica em automação industrial, Marjory Aparecida Lima, que trabalha no laboratório de metrologia do Serviço Nacional de Aprendizagem Industrial (Senai) em Contagem.
De acordo com um dos diretores do Inmetro, Romeu Daroda, o ensino da metrologia nas universidades é um aspecto importante que deve ser pensado e posto em prática. “A metrologia tem sido cada vez mais requisitada no mercado de trabalho, por isso é possível criar uma sinergia entre o nosso Instituto e a UFOP, com o objetivo de introduzir matérias sobre o tema e capacitar os estudantes”, diz Daroda.
DISSEMINAÇÃO DA METROLOGIA O diretor do Nist, Antônio Possolo, que apresentou em conferência um software para cálculos do controle de qualidade de materiais, afirma a importância da universidade próxima aos estudos metrológicos. Ele acredita que “o evento acontecendo em uma universidade cria chances do contato de alunos interessados nas pesquisas com base nos estudos metrológicos, auxiliando os institutos que exercem esse trabalho”.
O presidente da Sociedade Brasileira de Metrologia, João Lerch, reitera: “Ainda hoje, poucas pessoas têm conhecimento da metrologia, e espaços como esse são importantes para a difusão dessa ciência para alunos, professores e pesquisadores de cursos técnicos e também para universitários”.
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